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高性能光纤光谱仪

型 号ATP5104

所属分类高性能光纤光谱仪

报价

产品描述:ATP5104-紫外增强高性能光纤光谱仪 ATP5104是奥谱天成针对紫外光谱,特别研制的高性能紫外增强型微型光纤光谱仪,它采用3072像素的紫外增敏线性CCD,可以适应165-1100nm波长范围的测试,CCD检测器曝光时间可以控制在1ms之内

产品概述

ATP5104-紫外增强高性能光纤光谱仪

产品概述

    ATP5104是奥谱天成针对紫外光谱,特别研制的高性能紫外增强型微型光纤光谱仪,它采用3072像素的紫外增敏线性CCD,可以适应165-1100nm波长范围的测试,CCD检测器曝光时间可以控制在1ms之内,同时,奥谱天成为ATP5104特别定制了超低噪声CCD信号处理电路,其量化噪声小于3 counts,为业界zui佳水平,可以帮助您可以获得极高的光谱信噪比。

 

  ATP5104是紫外、可见、近红外光谱应用的理想选择,有不同的狭缝、光栅、反射镜、滤光片可以选择,可以根据您的需求,配置适合不同应用场合的光谱仪,光谱范围从165nm起至1050nm,光谱分辨率可在0.5到4.0nm之间选择,奥谱天成也可为OEM客户提供定制选择。

 ATP5104可以接收SMA905接口光纤输入或者自由空间输入的待测光,根据设定的积分时间进行测量,将测量结果通过USB2.0(高速)或者UART输出;

ATP5104-紫外增强高性能光纤光谱仪

特点:

  • 紫外增强高性能背照式CCD

  • 专门针对紫外优化的光路和结构;

  • 探测器:背照式CCD

  • 探测器像素:3072

  • 超低噪声CCD信号处理电路

  • 光谱范围: 165-1100 nm

  • 光谱分辨率: 0。1-4 nm(取决于光谱范围、狭缝宽度)

  • 光路结构:交叉C-T

  • 积分时间:2ms-130s

  • 供电电源:DC 5V±10% @ <2.3A

  • 18 bit, 570KHz A/DConverter

  • 光输入接口:SMA905或自由空间

  • 数据输出接口: USB2.0(High speed)或UART

  • 20针双排可编程外扩接口

ATP5104-紫外增强

典型应用:

  • 拉曼光谱仪

  • 微量、快速分光光度计;

  • 光谱分析/辐射分光分析/分光光度分析

  • 透过率、吸光度检测;

  • 反射率检测;

  • 紫外、可见和短波近红外

  • 波长检测

探测器

类型

线阵背照式CCD

探测光谱范围

165-1100 nm

有效像素

3072

像元尺寸

600μm×8μm

全量程范围

~200 ke-

灵敏度

6。5 uV/e-

暗噪声

6 e-

光学参数

波长范围

165-1100 nm

光学分辨率

0.1-4  nm (取决于狭缝、光谱范围)

性噪比

>1000:1

动态范围

3000:1

工作温度

-10-40 oC

工作湿度

< 85%RH

光路参数

光学设计

f/4 交叉非对称C-T光路

焦距

40 mm for incidence / 60 mm for  output

入射狭缝宽度

5、10、25、50、100、150、200 μm 可选,其他尺寸可定制

入射光接口

SMA905光纤接口、自由空间

电气参数

积分时间

1 ms - 130 second

数据输出接口

USB 2。0

ADC位深

18  bit

供电电源

DC 5V±10%

工作电流

<2.3A

存储温度

-20°C  to +70°C

操作温度

-10°C  to +40°C

物理参数

尺寸

102×720×34 mm3

重量

0。3 kg

Sealing

Anti-sweat

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